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产品介绍
CW400T-8″硅芯片工业检查显微镜
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产品名称:CW400T-8″硅芯片工业检查显微镜
产品型号:CW400T-8″
仪器用途:

CW400T-8
广泛的应用于透明,半透明或不透明物质的观测。本仪器配有大移动范围的载物台,落射照明器、平场金相物镜,大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,是专门为检测晶圆而设计制造的,同样它也可以用于金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器,适用于学校、科研、工厂等部门使用。

性能特点:
配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰。
配置大移动范围的载物台,能快速和慢速移动。
粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm。
6V 20W卤素灯,亮度可调。
三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察,可进行100%透光摄影。

主要技术参数:
  • 镜筒:铰链式双目头部,倾斜30°,主机含三目摄像接筒装置(T)
  • 大视野目镜:WF10Xф18mm,单视度可调
  • 长工作距离平场金相物镜:
  • PL5X,PLL10X,PLL20X,PLL50X(S),PLL80X(S)
  • 光学总放大倍数(标配):50X-800X
  • 转换器:五孔(滚珠内定位)
  • 载物台:双层机械移动,尺寸280mm×270mm,
  • 移动范围204mm×204mm
  • 调 焦:粗微动同轴,升降范围25mm,微动格值0.0008mm,
  • 带锁松紧和限位装置
  • 光 源:落射科勒照明卤素灯6V20W,亮度可调
  • 正交偏光装置
  • 防 霉
选购件:
300万像素彩色数字摄像系统、测量软件、计算机

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